X射线荧光光谱法测定地质样品中铌和钽的探讨

• 作者: 陈静
• 来源期刊: 冶金分析
• 关键词: X射线荧光光谱法 测量条件 自吸 地质样品 铌 钽
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 页码范围: 24-29
• 页数: 6页
• 字数: 3066字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.b0yuan.issn1000-7571.009411

摘要

采用粉末压片制样,利用X射线荧光光谱仪(XRF)对地质样品中铌、钽的X射线荧光强度与含量关系进行了讨论.对低含量铌、钽的测量条件进行了优化,铌的检出限为1.0μg/g,钽的检出限为3.1 μg/g;对水系沉积物标准样品GBW07311进行精密度考察,铌、钽测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)小于2.0％;对地质样品进行分析,测定值与电感耦合等离子体质谱法的结果相一致.当地质样品中铌含量高时,铌的谱线强度在峰值处下降,呈凹状,这是因为铌的含量过高使光管计数率达到上限溢出,从而引起元素本身出现自吸现象.实验通过选择低管电压和管电流(40 kV-40 mA)解决了自吸现象,此条件适用于大批样品的测试;而使用常规管电压和管电流(50 kV-60 mA),以Nb-Kβ(Ⅰ)作为分析线,则适用于少量样品的多种元素同时测定;对高含量铌、钽样品进行分析,测定值与重量法测定值一致.实验方法满足了地质样品中不同含量铌、钽的测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈静		8	89	5.0	8.0