GaAlAs红外发光二极管低频噪声检测方法

• 作者: 杨代强 熊建国 赵华 陈志高 黄贻培
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 低频噪声 红外发光二极管 噪声模型 氧化层陷阱
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 1249-1252
• 页数: 4页
• 分类号: TN36|TN386.1
• 字数: 2565字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2015.06.008

摘要

通过分析GaAlAs红外发光二极管（IRED）的低频噪声产生机理及特性，建立了GaAlAs IRED的噪声模型，设计了一套低频噪声测试系统，通过该系统测量得到了GaAlAs IRED的低频噪声。实验表明，该方法能准确的测量GaAlAs IRED的低频噪声，发现其低频噪声主要表现为1/f噪声，得到与噪声模型一致的结果。该研究为GaAlAs IRLED可靠性的噪声表征提供了实验基础与理论依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志高	中国地震局地震研究所地震大地测量重点实验室	35	208	6.0	14.0
3	黄贻培	重庆科创职业学院机电学院	20	44	3.0	6.0
4	杨代强	重庆科创职业学院机电学院	29	38	4.0	4.0
5	熊建国	重庆科创职业学院机电学院	23	30	4.0	4.0
6	赵华	河北师范大学电子工程系	11	28	3.0	5.0