基于单片机的信号周期的测量

• 作者: 许长安
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 信号周期 Protues 仿真测试
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 电子技术研发
• 页码范围: 19-20,18
• 页数: 3页
• 分类号: TN919-34|TP391
• 字数: 1126字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2015.12.007

摘要

周期的测量在工程应用和科学研究中必不可少.在此采用单片机作为核心控制部件,用液晶显示模块作为显示部件,设计了一个对信号周期进行精确测量的电路.结合EDA现代电子技术,在Protues仿真软件中进行了仿真实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许长安	安徽师范大学物电学院	5	6	2.0	2.0