基于关键路径延时检测的自适应电压缩减技术

• 作者: 乔树山 凌康 孙晓蕾 宋强国 秋攀 赵慧冬
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自适应电压缩减(AVS) 预错误 原位延时检测 关键路径 低功耗
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 半导体集成电路
• 页码范围: 250-254
• 分类号: TN492
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.04.002

摘要

为了减小传统的最差情况设计方法引入的电压裕量,提出了一种变化可知的自适应电压缩减(AVS)技术,通过调整电源电压来降低电路功耗.自适应电压缩减技术基于检测关键路径的延时变化,基于此设计了一款预错误原位延时检测电路,可以检测关键路径延时并输出预错误信号,进而控制单元可根据反馈回的预错误信号的个数调整系统电压.本芯片采用SMIC180 nm工艺设计验证,仿真分析表明,采用自适应电压缩减技术后,4个目标验证电路分别节省功耗12.4％,11.3％,10.4％和11.6％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	乔树山	中国科学院微电子研究所	53	272	9.0	14.0
2	秋攀	中国科学院微电子研究所	3	18	2.0	3.0
3	孙晓蕾	中国科学院微电子研究所	27	329	10.0	18.0
4	赵慧冬	中国科学院微电子研究所	6	8	2.0	2.0
5	宋强国	中国科学院微电子研究所	2	7	2.0	2.0
6	凌康	中国科学院微电子研究所	1	3	1.0	1.0