WBS-RBS矩阵在芯片研发项目风险识别中的应用

• 作者: 孙华 黄伟
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片研发 WBS-RBS 风险识别
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TN409
• 字数: 1886字
• 语种: 中文

摘要

芯片研发企业对项目的管理，目前仍以进度流程和经费被动管理为主，未建立项目风险管理体系，往往出现预算超支、工期延长等问题。项目风险管理中最重要最基本的是风险识别。通过某国家重大专项风险识别的案例，说明如何在芯片研发项目中运用WBS-RBS矩阵进行风险识别的全过程。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄伟		33	50	4.0	4.0
2	孙华	上海交通大学机械与动力工程学院	7	60	4.0	7.0