大鼠原代神经细胞培养体系放射性损伤敏感性及机制研究

• 作者: 刘玉虎 姚鹏飞 朱文霞 王向阳 王洪运 高晨
• 来源期刊: 临床神经外科杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 放射性损伤 共培养 神经保护 活性氧
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 366-371
• 页数: 6页
• 分类号: R818.74
• 字数: 6924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7770.2015.05.012

摘要

目的：探讨大鼠原代神经细胞培养体系对放射性损伤敏感性及其损伤机制。方法建立大鼠原代星形胶质细胞-神经元共培养体系，原代神经元培养体系以及原代星形胶质细胞培养体系并分别随机分为对照组（始终正常培养），放射损伤组（对细胞实施X射线单次照射）。72 h后，对比评价不同组细胞死亡率、凋亡以及活性氧（ROS）含量变化。结果 X射线照射引起原代神经元培养体系细胞死亡率[（68．0±5．2）％]及ROS含量（103．6±8．8）升高最为明显。共培养体系细胞损伤较轻，星形胶质细胞培养体系则无明显损伤。原代神经元培养体系和原代星形胶质细胞-神经元共培养体系中放射损伤组的细胞死亡率及ROS含量与同体系内对照组的差异有统计学意义（P＜0．05）。原代神经元培养体系放射损伤组的细胞死亡率及ROS含量与其余两种培养体系同组相应指标的差异也有统计学意义（P＜0．05）。神经元放射性损伤的主要表现是异常凋亡。结论放射损伤后原代神经元培养体系ROS含量明显增高，导致神经元凋亡失调。因此， ROS可能成为放射性脑损伤一个新的治疗靶点。