高频电压加速XLPE电缆绝缘水树老化研究

• 作者: 叶刚 张钦 彭发东 李化 李鑫 林福昌 陈晓科
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 电树 水树 高频电压 加速老化试验 生长率
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 页码范围: 50-54
• 页数: 5页
• 分类号: TM247|TM201.4|TQ325.1+2
• 语种: 中文

摘要

在原有水浴法的基础上，采用高频电压对XLPE电缆进行加速老化试验，对老化后的电缆切片样品进行光学显微镜观察，并对不同老化时间电缆样品中的水树进行了统计分析。结果表明：XLPE电缆在高频电压下老化后，在人为孔洞附近会产生水树缺陷，随着老化时间的增加，水树数目增多，水树平均长度逐渐增加，其中电缆老化250 h后的水树平均长度为857μm。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林福昌	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室	87	1184	16.0	32.0
2	陈晓科	广东电网有限责任公司电力科学研究院	32	244	8.0	14.0
3	彭发东		23	198	9.0	13.0
4	李鑫	广东电网有限责任公司电力科学研究院	18	100	6.0	9.0
5	李化	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室	31	333	9.0	18.0
6	叶刚	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室	5	28	3.0	5.0