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摘要:
X射线荧光光谱仪是进行组分和结构分析的有力工具,简述了X射线荧光光谱仪的基本原理并对其进行了分类,重点介绍了其在光源、探测器等硬件发面的发展,扼要介绍了其应用,最后对其发展趋势作了简要展望。
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文献信息
篇名 X 射线荧光光谱仪的发展及应用
来源期刊 核电子学与探测技术 学科 工学
关键词 X射线荧光光谱仪 光源 探测器 X射线光谱分析 综述
年,卷(期) 2015,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 695-702,706
页数 9页 分类号 TH744
字数 8146字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王超 厦门大学机电工程系 24 152 7.0 12.0
2 方正 厦门大学机电工程系 24 101 6.0 9.0
3 余韬 厦门大学机电工程系 4 33 2.0 4.0
4 胡波 厦门大学机电工程系 3 28 1.0 3.0
5 武晓梅 厦门大学机电工程系 1 28 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
X射线荧光光谱仪
光源
探测器
X射线光谱分析
综述
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
总下载数(次)
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21728
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