抗闩锁效应微处理器复位电路设计研究

• 作者: 侯立功 陈天娥
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS 闩锁效应 微处理器 电路应用级 复位 泄流
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 142-145
• 页数: 4页
• 分类号: TN79+.1
• 字数: 3820字
• 语种: 中文

摘要

主要探究解决控制系统在频繁通断电情况下容易死机的问题.通过对传统微处理器复位电路的理论分析和工作波形仿真,发现在电源掉电时,微处理器在其复位引脚受到外部复位电容的放电冲击时,容易进入闩锁状态.由此提出上电复位电路也是容易导致CMOS电路进入闩锁的外部触发条件之一,并在此基础上设计了一种新型抗闩锁复位电路,能够自动检测电源掉电,导通泄流回路,使复位电容避开复位引脚放电.仿真分析和样机测试验证了其抗闩锁功能的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈天娥	无锡职业技术学院江苏省传感网工程技术研究开发中心	19	48	3.0	6.0
2	侯立功	无锡职业技术学院江苏省传感网工程技术研究开发中心	16	65	4.0	7.0