一种低复杂度的激光打标拐点检测算法

• 作者: 彭诚诚 梁文斌 王太兴 谢跃雷
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 拐点检测 斜率 图形分解
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 激光与光电子技术应用
• 页码范围: 202-205
• 页数: 4页
• 分类号: TG665
• 字数: 2472字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2015.02.012

摘要

为了改善激光打标系统中图像解算的拐点检测率,提高激光标刻质量,采用一种基于斜率差的拐点检测算法,进行了理论分析和实验验证.该算法计算出图像数据中相邻两点间偏移坐标的斜率,并以此相邻坐标点连线斜率之差作为判决条件检测提取拐点.结果表明,新算法较传统算法而言,在拐点检测更为准确的同时,具有较小的运算复杂度;应用该算法能够修正传统打标系统中存在的拐点工艺问题,使图像拐点在提取过程中能够更节省存储空间,减少了运算量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢跃雷	桂林电子科技大学信息与通信学院	56	180	7.0	10.0
2	梁文斌	桂林电子科技大学信息与通信学院	7	14	2.0	3.0
3	彭诚诚	桂林电子科技大学信息与通信学院	4	16	3.0	4.0
4	王太兴	桂林电子科技大学信息与通信学院	2	9	2.0	2.0