TD-LTE基站衰落性自动化测试系统的分析与设计

• 作者: 彭辉
• 来源期刊: 电信快报
• 关键词: TD-LTE 衰落性测试 基站衰落 自动化测试系统
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 论文选粹
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 字数: 3124字
• 语种: 中文

摘要

随着通信行业的发展,第四代通信设备TD-LTE基站衰落性自动化测试性能越来越重要.文章基于TD-LTE基站衰落性自动化测试系统的分析与设计,对UE(用户终端)自动介入功能、App server发包功能、选择衰落信遭模型功能、获取UE log功能、转换UE原始log功能、上传UE log功能等进行分析.结合具体的开发与设计方案及经验,对下行衰落自动化测试、上行衰落自动化测试、上下行衰落自动化测试等测试系统进行分析和设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭辉		3	6	1.0	2.0