智能卡去激活测试问题分析与解决方法

• 作者: 周代卫 周宇 孙向前 张沛
• 来源期刊: 电信网技术
• 关键词: 智能卡 机卡接口 去激活 逻辑电位
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 泰尔检测
• 页码范围: 69-74
• 页数: 6页
• 语种: 中文

摘要

针对移动通信终端设备检测认证中常见的一类智能卡去激活测试失败问题,通过借助专用测试工具实际比对和验证,深入分析并定位了问题原因,进一步提出了一种通过软件控制的分段降压法.该方法通过了实际验证,并且具有不改动硬件设计,同时不影响其他一致性测项的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张沛		6	5	2.0	2.0
2	周宇		5	16	3.0	4.0
3	周代卫		4	5	2.0	2.0
4	孙向前		8	23	3.0	4.0