EBSD在超细硬质合金WC晶粒尺寸统计中的应用

• 作者: 于涛 左锐 徐银超 李园园 林江华 温光华 陈响明
• 来源期刊: 粉末冶金材料科学与工程
• 关键词: 超细WC晶粒统计 EBSD X射线衍射 SEM图像分析法 经验公式法
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 162-167
• 页数: 6页
• 分类号: TF125.3
• 语种: 中文

摘要

硬质合金中WC晶粒度的统计随其尺寸的降低，难度大幅升高。本文作者在多次实验的基础上，成功地将电子背散射衍射(EBSD)技术应用于超细 WC-Co 硬质合金 WC 晶粒尺寸统计。以样品 A 合金(晶粒度约0.2～0.4μm)为例，应用EBSD统计其平均晶粒尺寸为0.36μm的同时，还与其他晶粒度统计方法进行对比分析。另外，取样品B(晶粒度约0.1~0.3μm)，经两种不同的烧结工艺烧结后分别进行EBSD分析，对比分析烧结温度对超细WC晶粒长大的影响。