35 kV电力电缆冷缩式中间接头典型缺陷电场计算及故障分析

• 作者: 夏俊峰 孙建生 梁惟钢 蒋晓娟
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 电力电缆 冷缩式中间接头 气隙 半导电层电阻率 电场强度 故障分析
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 页码范围: 59-63,68
• 页数: 6页
• 分类号: TM855
• 语种: 中文

摘要

通过对含有气隙缺陷的冷缩式中间接头建立物理模型，采用等效电路法分析了气隙尺寸、压接管外绕包半导电层的电阻率对气隙场强的影响。结果表明：气隙尺寸与场强成反比关系，当半导电层的电阻率超过一定值时，气隙场强会显著提升，超过空气最大击穿场强。通过对两例实际接头故障情况的分析，得出与模型分析一致的结论，并提出预防措施，为今后35 kV中压电力电缆接头故障的预防及原因分析提供参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙建生		21	97	5.0	9.0
2	夏俊峰		10	32	3.0	5.0
3	蒋晓娟		5	63	3.0	5.0
4	梁惟钢		1	5	1.0	1.0