一种新型 NAND Flash 坏块管理算法的研究与实现

• 作者: 乔立岩 张鹏 王世元 魏德宝
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: NAND Flash 坏块管理 FPGA逻辑设计
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 【理论与算法】
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TP2
• 字数: 2523字
• 语种: 中文

摘要

本文在研究NAND Flash常用坏块管理方法的基础上，提出了一种基于FPGA 的NAND Flash坏块管理方案。该方案运用坏块替换策略，将所有块分为数据块区和好块保留区，通过在FPGA片内RAM建立基于位索引的坏块位标记表BBT （bad block table）和块保留映射表RT T （reserved translate table）实现坏块的识别和替换，同时将两表保存于NAND Flash中，保证了坏块信息的非易失存储和坏块查询的高速性能。本方案全面考虑了坏块产生、坏块识别、坏块信息存储、坏块高速替换，是坏块管理的完整解决方案。经实验表明该方案具有坏块信息容量小、替换速度快、实现可靠等优点。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏	哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所	92	751	14.0	23.0
2	乔立岩	哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所	39	605	12.0	24.0
3	魏德宝	哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所	5	135	4.0	5.0
4	王世元	哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所	1	10	1.0	1.0