基于微波反射法的复合绝缘子无损检测方法

• 作者: 成立 李昂 杨进科 王黎明 胡燮 陈伟东
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 复合绝缘子 无损检测 微波反射法 导通性缺陷 检测距离 耦合剂
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 584-591
• 页数: 8页
• 字数: 4015字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.02.035

摘要

为了对运行复合绝缘子内部缺陷进行无损探伤(NDT),提出一种基于高频微波的检测方法,利用微波在硅橡胶与缺陷以及缺陷与芯棒交界面处的折反射进行缺陷检测.首先通过计算不同缺陷类型处的折反射信号幅值,从理论上验证该方法可行性;其次,搭建了针对复合绝缘子的微波检测平台,并对加入不同类型人造缺陷的绝缘子样品上进行试验,优化各系统参数;最后对收集到的现场出现异常温升的绝缘子进行检测,找出缺陷位置,并解剖进行验证.实验结果表明:采用近场微波方法无需偶联剂,即可对复合绝缘子进行无接触、无损检测;可以检测到绝缘子内部的不同类型(介电常数)的缺陷;可识别尺寸小于0.4 mm的细微缺陷.通过实验验证了微波反射法应用于复合绝缘子内部缺陷检测的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王黎明	清华大学深圳研究生院	268	4672	36.0	52.0
2	成立	清华大学深圳研究生院	9	42	3.0	6.0
3	李昂	清华大学深圳研究生院	19	377	7.0	19.0
4	胡燮		1	19	1.0	1.0
5	杨进科		1	19	1.0	1.0
6	陈伟东		1	19	1.0	1.0