用于黄瓜白粉病抗性鉴定的InDel标记

• 作者: 何欢乐 刘士辉 姚永康 李晓丹 潘俊松 聂京涛 蔡润
• 来源期刊: 中国蔬菜
• 关键词: 黄瓜 白粉病 InDel标记 分子标记辅助育种 基因Mlo
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 所属期刊栏目: 研 究 论 文
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 字数: 4211字
• 语种: 中文

摘要

根据黄瓜白粉病抗性主效基因/QTL的插入/缺失突变，将其设计成共显性的InDel分子标记。通过群体连锁分析，发现InDel-MLO1标记与黄瓜白粉病抗性主效基因共分离。应用该标记对24份来自世界各地且白粉病抗性已知的黄瓜材料进行抗性验证，21份材料的抗性表型与标记的带型一致，说明在黄瓜进化和驯化过程中，造成抗病表型的该插入/缺失突变发生普遍。因此，该InDel标记适合于大多数黄瓜材料的白粉病抗性鉴定和分子标记辅助育种，从而加快黄瓜白粉病抗病育种的进程。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡润	上海交通大学农业与生物学院	106	2429	24.0	46.0
2	何欢乐	上海交通大学农业与生物学院	73	1852	20.0	42.0
3	潘俊松	上海交通大学农业与生物学院	86	2137	22.0	44.0
4	刘士辉		15	84	6.0	8.0
5	姚永康		17	110	6.0	10.0
6	聂京涛	上海交通大学农业与生物学院	3	22	3.0	3.0
7	李晓丹		5	23	3.0	4.0