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摘要:
功耗分析已成为密码芯片旁路测试的重要手段.为了在电路设计阶段验证防护措施的有效性,通常设计者会利用功耗仿真工具或FPGA来测量电路功耗,然后进行旁路分析.本文通过理论和实验结合,以分组密码算法DES为例,深入分析密码电路各组成部分的功耗特征,揭示已有防护措施旁路信息泄露的原因,并提出了泄露可控的电路实现方式.
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内容分析
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文献信息
篇名 仿真功耗下的旁路信息泄露研究
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 集成电路设计 密码芯片 旁路功耗分析 仿真功耗 掩码防护
年,卷(期) 2015,(6) 所属期刊栏目 应用专题
研究方向 页码范围 30-33
页数 4页 分类号 TN402|TN492
字数 3326字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭筝 12 39 3.0 6.0
2 顾海华 9 12 2.0 2.0
3 刘军荣 3 2 1.0 1.0
4 王莉菲 1 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路设计
密码芯片
旁路功耗分析
仿真功耗
掩码防护
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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