高钚含量样品中α能谱法分析237Np的可行性研究

• 作者: 代义华 余功硕 倪建忠
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 半导体α能谱 能谱模拟 239 Pu 237 N p
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 1888-1892
• 页数: 5页
• 分类号: TL817.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2015.49.10.1888

摘要

通过对244 Cm的α实验谱进行拟合得到单能峰的峰形参数，采用随机抽样技术表征谱计数的统计涨落，建立了一种模拟半导体α能谱的方法。利用该方法模拟238 Pu和243 Am的α能谱，与实验谱基本吻合，证明了方法的可靠性。在此基础上，研究了239 Pu对237 N p的α能峰的影响，结果表明，当239 Pu与237Np的活度比 A（239Pu）／A（237Np）≤10时，通过解谱得到的 A（239Pu）／A（237Np）与设定值的相对偏差≤2.0％。对于 A（239 Pu）／A（237 Np）约为3000的样品，如果对钚的去污系数达到300以上，则可由α能谱法测量样品中的237 N p。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	倪建忠		14	22	2.0	4.0
2	余功硕		13	9	2.0	2.0
3	代义华		14	16	2.0	3.0