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新型AFM原子分辨率导电探针技术研究
新型AFM原子分辨率导电探针技术研究
作者:
刘俊
唐军
张欢
李艳君
石云波
薛晨阳
谢艳娜
马宗敏
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
导电薄膜
Si探针
原子分辨率
磁交换力显微镜
摘要:
目的:制备新型导电探针,解决目前探针针尖曲率半径较粗、饱磁力大、调频困难、不容易得到高分辨图像等问题。方法向Si探针针尖蒸镀导电金属薄膜得到导电薄膜Si探针,镀Fe薄膜厚度约为几纳米,同时保证探针的曲率半径约10 nm。利用透射电镜观察和超高真空原子力显微镜扫描镀膜前后探针NaCl(001)表面,分析其性能。结果自制的Fe薄膜Si探针由于蒸镀了金属薄膜,探针针尖性能稳定,Si探针扫描效果的悬挂键影响被消除,同时提高了系统的扫描分辨率。结论导电薄膜Si探针能够充分利用现有的仪器设备进行实验,具有造价低、使用简单、性能稳定等优点,可以作为将来磁交换力显微镜( MExFM)的磁性探针来测试材料的表面磁信息。
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文献信息
篇名
新型AFM原子分辨率导电探针技术研究
来源期刊
表面技术
学科
工学
关键词
导电薄膜
Si探针
原子分辨率
磁交换力显微镜
年,卷(期)
2015,(2)
所属期刊栏目
表面质量控制及检测 Surface Quality Control and Detection
研究方向
页码范围
115-118
页数
4页
分类号
TG174.444|TH742
字数
2015字
语种
中文
DOI
10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2015.02.022
五维指标
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
导电薄膜
Si探针
原子分辨率
磁交换力显微镜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
表面技术
主办单位:
中国兵器工业第五九研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-3660
CN:
50-1083/TG
开本:
16开
出版地:
重庆市2331信箱(重庆市九龙破区石桥铺渝州路33号)
邮发代号:
78-31
创刊时间:
1972
语种:
chi
出版文献量(篇)
5547
总下载数(次)
30
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