基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法

• 作者: 刘军 吴玺 王伟 裴颂伟 陈田
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 三维嵌入式芯核 测试外壳扫描链 跨度 虚拟层
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 454-459
• 页数: 6页
• 分类号: TP306+.2
• 字数: 4413字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2015.03.006

摘要

为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后,在TSVs(Through Silicon Vias)数量的约束下,逐层的将虚拟层中的扫描元素分配到测试外壳扫描链中,以平衡绑定前后各条测试外壳扫描链的长度.实验结果表明,所提方法有效地减少了三维芯核绑定前后测试的总时间和硬件开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伟	合肥工业大学计算机与信息学院	162	1275	18.0	27.0
5	吴玺	合肥工业大学计算机与信息学院	14	78	6.0	8.0
9	刘军	合肥工业大学计算机与信息学院	29	146	7.0	10.0
13	裴颂伟	北京化工大学信息科学与技术学院	1	2	1.0	1.0