N型Cu掺杂NiO的电子结构与热电性能

• 作者: 张久兴 张忻 张飞鹏 杨欢 路清梅
• 来源期刊: 硅酸盐通报
• 学科: 工学
• 关键词: NiO Cu掺杂 电输运参数 热电性能
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 专题论文
• 页码范围: 941-946,950
• 页数: 7页
• 分类号: TN37
• 字数: 4889字
• 语种: 中文

摘要

基于密度泛函理论第一性原理计算的方法研究了Cu掺杂NiO氧化物的能带结构、电子能量状态密度和电荷分布,系统分析了其电输运参数和热电性能.能带结构计算结果表明,Cu掺杂后NiO氧化物带隙减小.态密度计算结果表明,Cu掺杂后NiO氧化物费米能级附近的状态密度大大提高.电荷分布计算结果表明,Cu掺杂后NiO氧化物阳离子和阴离子之间偏向共价结合.载流子输运参数分析结果表明,Cu掺杂后NiO氧化物费米能级附近的载流子有效质量均增大,其迁移率降低,费米能级附近的载流子浓度增加.电输运性能分析结果表明,载流子在Op态、Ni d态、Cud态电子与Os、Op态、Ni s、Ni p态、Cu s、Cu p态电子形成的能级之间的跃迁形成载流子迁移过程.热电性能分析结果表明,Cu掺杂后NiO氧化物电阻率大大降低,Seebeck系数有望得到提高,Cu掺杂可提高NiO氧化物的热电性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张久兴	北京工业大学材料科学与工程学院新型功能材料教育部重点实验室	226	2057	21.0	35.0
2	张忻	北京工业大学材料科学与工程学院新型功能材料教育部重点实验室	52	194	6.0	12.0
3	路清梅	北京工业大学材料科学与工程学院新型功能材料教育部重点实验室	48	255	8.0	14.0
4	杨欢	河南城建学院土木工程学院	15	19	3.0	3.0
5	张飞鹏	河南城建学院数理学院	22	70	5.0	7.0