快中子临界装置辐射损伤等效性实验测量

• 作者: 周静 李俊杰 荣茹 邱东 邹德慧 鲁艺
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 辐射效应 等效 注量 能谱
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 1000-1004,1008
• 页数: 6页
• 分类号: TN32
• 字数: 4773字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201506.1000

摘要

CFBR-Ⅱ堆是中子辐照实验指定模拟辐射源,某快中子临界装置在辐射效应研究中的作用越来越重要,为了准确评价利用上述平台开展的辐射效应研究结果,需要确定二者的辐射损伤等效系数.利用双极晶体管直流增益倒数与中子注量的线性关系,开展辐射损伤等效性研究.分析了辐射损伤等效系数的影响因素,从实验原理和工程实现的角度建立了效应参数和场量参数的控制方法,采用损伤常数平均的方式进行数据处理,首次获得了快中子临界装置与 CFBR-Ⅱ堆的辐射损伤等效系数为 1.19,不确定度为 3.53%,满足了应用需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹德慧	中国工程物理研究院中子物理学重点实验室	10	47	5.0	6.0
2	邱东	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	21	62	5.0	7.0
3	李俊杰	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	13	28	3.0	4.0
4	鲁艺	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	18	48	4.0	5.0
5	荣茹	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	17	34	4.0	4.0
6	周静	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	6	9	2.0	3.0