线阵CCD光谱分辨率检测系统设计

• 作者: 张大伟 杨海马 毕继耀 王光斌 苏仰庆 黄元申
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱分辨率 STM32F103 线阵CCD 光栅
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1086-1092
• 页数: 7页
• 分类号: TN386.5|TP216
• 字数: 1928字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.2015.07.020

摘要

在分析光谱测试仪器检测设备发展现状的前提下,为解决光栅分辨率测试仪器中存在的电路复杂、探测器灵敏度低、结构可变通性差等问题,设计了一种以线阵CCD ILX554B为探测器的、以STM32F103为主控单元的线阵CCD光谱分辨率检测系统.系统利用片上高速时钟产生线阵CCD所需的驱动时序,经片上ADC采样后获取实时的光谱数据,将采集的数据经USB接口上传给上位机进行处理,获得最终的被测分光器件的光谱分辨率信息.最后,分别以汞灯和氩灯为光源,利用所设计的系统对光栅分辨率进行了测试,实验数据表明,在500 kHz的驱动频率下,系统光谱分辨率可以达到0.01nm.系统满足低成本、高精度、稳定和可靠等要求.