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摘要:
Theoretical investigation of generation-recombination processes in silicon, which has a lifetime of charge carriers 10-3 s and capture cross sections of 10-16 sm2. For the study uses a method of phase portraits, which are widely used in the theory of vibrations. It is shown that the form of phase portraits strongly depends on the frequency of exposure to the external variable deformation.
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篇名 The Use of Phase Portraits for the Study of the Generation-Recombination Processes in Semiconductor
来源期刊 现代物理(英文) 学科 医学
关键词 PHASE Portraits The GENERATION of CHARGE Carriers The Recombination of CHARGE Carriers
年,卷(期) 2015,(13) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1921-1926
页数 6页 分类号 R73
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研究主题发展历程
节点文献
PHASE
Portraits
The
GENERATION
of
CHARGE
Carriers
The
Recombination
of
CHARGE
Carriers
研究起点
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期刊影响力
现代物理(英文)
月刊
2153-1196
武汉市江夏区汤逊湖北路38号光谷总部空间
出版文献量(篇)
1826
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