电子装备试验中的电磁兼容问题分析

• 作者: 任伯峰 何健 宋颖凤 尤梅
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁兼容 电子装备试验 近场 远场
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 51-55
• 页数: 5页
• 分类号: TN97
• 字数: 4077字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2015.02.15

摘要

对近场区和远场区的电磁兼容特性进行了分析，得出结果如下：远场条件下电子装备间的电磁兼容问题可以不用考虑，而在近场条件下则不容忽视。针对电子装备试验中近场效应的存在可能导致的天线性能变化，进行了理论研究、数学仿真和试验验证，其结果表明，近场效应导致天线主瓣与第1副瓣之间的电平被显著抬高、天线增益损耗最大值不超过5 dB。对信号频谱图上叠加的多个不稳定信号进行了原因分析，通过切断多种传输途径杜绝了此类现象的发生。针对试验区域内所出现的某雷达大功率干扰信号，采取变换试验布局解决了问题。从方案设计和试验实施等2个阶段，对近场条件下电子装备试验可能出现的电磁兼容问题进行了归纳分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤梅		2	7	1.0	2.0
2	宋颖凤		1	1	1.0	1.0
3	何健		4	7	1.0	2.0
4	任伯峰		5	13	2.0	3.0