静磁场对固液界面表面电荷性质的影响

• 作者: 景大雷 潘昀路
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 微纳流体系统 流体阻力 磁场 固液界面 表面电荷
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 微纳技术与精密机械
• 页码范围: 3343-3349
• 页数: 7页
• 分类号: O351.2|O441.4
• 字数: 3448字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20152312.3343

摘要

考虑磁场对固液界面表面电荷性质的影响与微纳流体系统的流体阻力相关,本文采用原子力显微镜(AFM)研究了静磁场对去离子水黏度以及高硼硅玻璃-去离子水界面表面电荷性质的影响,并分析了静磁场对去离子水性质影响的机理.研究结果表明,将去离子水静置于磁场强度为0～0.6 T的静磁场下30 min时,去离子水的黏度随磁场强度的增加而减小,而高硼硅玻璃-磁化水界面的表面电荷密度随磁场强度的增加而增加;静磁场对去离子水性质影响的机理是磁场引起的去离子水内氢键以及氢氧键的断裂.研究结果同时表明,磁场可以有效地改变固液界面的表面电荷性质.本文的研究结果为利用磁场有效地控制微纳流体系统的流体阻力提供了可能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	景大雷	上海理工大学机械工程学院	7	8	2.0	2.0
2	潘昀路	哈尔滨工业大学机电工程学院	3	3	1.0	1.0