金属磁记忆信号的有限元模拟与影响因素

• 作者: 丁红胜 刘波 高庆敏
• 来源期刊: 无损检测
• 关键词: 磁记忆检测 无损检测 影响因素 有限元
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 实践经验
• 页码范围: 86-91
• 页数: 6页
• 字数: 3546字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201506022

摘要

局部应力集中形成的裂纹是导致金属构件发生断裂的主要因素，目前金属磁记忆方法是检测铁磁性构件早期损伤或应力集中程度的有效手段，然而在实际应用中，金属磁记忆方法仍存在一些问题，例如无法定量评估应力集中程度、外部因素对磁记忆信号存在耦合影响等。为了确定金属磁记忆检测的影响因素，以45号钢为例，利用ANSYS 有限元分析软件进行仿真模拟并分析了试件所受拉伸载荷的大小、提离值、检测方向及扫描路径等对磁记忆检测结果的影响，获得一些定性的结果，可为试验研究和实际应用中的信号分析奠定相关基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁红胜	北京科技大学物理系	46	350	10.0	16.0
2	刘波	北京科技大学物理系	18	114	8.0	10.0
3	高庆敏	北京科技大学物理系	1	10	1.0	1.0