一种自偏置微电流源的拆环仿真验证技术

• 作者: 孔磊 张开礼 徐勇 徐志军 范凯鑫
• 来源期刊: 通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 基准电流源 自偏置 环路验证 电源抑制比
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 1202-1206
• 页数: 5页
• 分类号: TN91
• 字数: 2056字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0802.2015.10.021

摘要

由于IC芯片设计普遍采用全局偏置技术,而偏置电路的稳定性对电路的性能有较大影响.结合集成电路对高精度基准电流源的需求,设计了一种具有自偏置功能的恒定输出电流源电路,输出电流值为5μA.同时该电路对温度变化敏感度极低,温度-40°～125°变化时输出电流仅变化不到0.8％.为了避免电路设计不当带来环路自激振荡的危险,本模块设计中增加了环路稳定性的验证,采用Cadence Spectre进行模拟仿真,仿真结果表明该电路在保持高电源抑制比的同时,提高了输出电流的稳定性与可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐勇	解放军理工大学通信工程学院	35	176	6.0	12.0
2	徐志军	解放军理工大学通信工程学院	33	97	6.0	9.0
3	张开礼	解放军理工大学通信工程学院	3	7	2.0	2.0
4	范凯鑫	解放军理工大学通信工程学院	2	4	1.0	2.0
5	孔磊		4	5	2.0	2.0