空间辐射对芯片温度场分布影响的研究

• 作者: 刘玉明 吴凡
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: ANSYS 瞬态 有源像元传感器 时间温度曲线
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 92-96
• 分类号: TP212
• 语种: 中文

摘要

简述了ANSYS有限元瞬态热分析方法的基本原理和步骤,推导了瞬态传导辐射微分方程,利用此有限元方法对基于有源像元传感器的探测芯片在轨运行期间温度场进行了计算,得出了详细的温度变化和分布云图情况,研究了不同辐射率的空间辐射对芯片温度分布的影响,比较了芯片在不同辐射率的空间辐射和无空间辐射时的温度分布情况,并绘制了最值温度节点的时间温度曲线,研究结果为相关芯片热设计提供了重要的理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴凡	中国科学院光电技术研究所	19	138	7.0	11.0
2	刘玉明	中国科学院光电技术研究所	1	1	1.0	1.0