纳米晶体金刚石涂层／抛光坐标测量机（CMM）测量探争可降低磨损和提高尺寸精度

• 作者: 张贝贝
• 来源期刊: 磨料磨具通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 金刚石涂层工具 坐标测量机 纳米晶体 尺寸精度 磨损 抛光 特种氧化铝 特种材料
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TG711
• 语种: 中文

作者信息

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