一种用于筛选高可靠性FPGA的硬件测试电路

• 作者: 包斌 张磊 贺强民
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高可靠性 筛选测试电路 老炼试验 抗辐照试验 FPGA
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 68-73
• 页数: 6页
• 分类号: TN7
• 字数: 2907字
• 语种: 中文

摘要

在空间遥感器电子产品设计中,对电子产品可靠性的要求越来越高,通过老炼试验和其他环境试验,从低等级电子元器件中筛选出符合要求的高等级电子元器件是目前航空航天行业普遍采用的一种方法.提出一种FPGA筛选测试电路,结合老炼试验及抗辐照试验,可从低等级FPGA中筛选出具有高可靠性和抗辐照特性的高等级FPGA芯片.该筛选测试电路在实际应用过程中,能够全面覆盖被筛选FPGA的所有关键电气特性,筛选测试结果能够准确反映被筛选FPGA在老炼试验和抗辐照试验前后的性能变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺强民		12	35	3.0	5.0
2	包斌		9	92	4.0	9.0
3	张磊		4	3	1.0	1.0