含光储微网的配电网可靠性影响研究

• 作者: 于泷泽 刘洁 宋宁希 尚德华 李朝晖 杨海晶 陈上吉
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 光储微网 配电网可靠性 评估模型 最小回路法
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 42-46
• 页数: 5页
• 分类号: TM71
• 字数: 2999字
• 语种: 中文

摘要

文章针对光储微网接入配电网系统可靠性问题进行研究，从光储微网的特点入手，分析光储微网接入位置和运行方式对配电网的影响，并建立基于最小回路法的含光储微网的配电网可靠性评估模型，在典型网架结构基础上进行验证。研究表明，光储微网在理论分析上可提升线路节点电压，降低网损，并在一定条件下提升系统的可靠性，该评估模型能够对实际光储微网接入的配电网进行可靠性评估，为光储微网的大量接入和可靠性提升提供指导。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋宁希		8	133	4.0	8.0
2	陈上吉		7	38	3.0	6.0
3	尚德华		4	13	2.0	3.0
4	杨海晶	国网河南省电力公司电力科学研究院	12	72	6.0	8.0
5	李朝晖	国网河南省电力公司电力科学研究院	11	44	4.0	6.0
6	刘洁		3	25	3.0	3.0
7	于泷泽		2	13	2.0	2.0