退火对CdSe量子点荧光影响的色度学研究

• 作者: 吴惠桢 胡炼
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 物理学
• 关键词: CdSe 量子点 退火 双尺寸分布 缺陷
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 材料合成及性能
• 页码范围: 610-616
• 页数: 7页
• 分类号: O482.31
• 字数: 4258字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20153606.0610

摘要

制备出两种尺寸的CdSe量子点.结合色度学分析,比较了固化在PMMA基质中两种尺寸CdSe量子点在退火中发生的不同变化以及相应光谱颜色的改变.小尺寸CdSe量子点在退火中有团聚的趋势,退火后荧光明显红移,如果退火温度超过一定范围,会产生显著的双尺寸分布效应,对应的色度坐标有从白光区域向上移动到绿色区域的趋势.较大尺寸的CdSe量子点,其热稳定性相对更好,退火造成荧光红移,对应绿色区域中的色度坐标有向右移动的趋势,但颜色改变不明显,因此更适合于发光显示方面的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴惠桢	浙江大学物理系	37	219	9.0	12.0
2	胡炼	江南大学理学院	4	5	1.0	2.0