EDX-LE型X射线能谱仪测试银饰品含量的条件设置

• 作者: 伍婉仪 陈诗丹 高孔
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 银首饰 定量分析 影响因素
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 质量检验
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 3589字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2015.01.001

摘要

利用能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)测试贵金属首饰含量,测试结果受选择的测试条件、样品成分、样品形状特征等因素的影响.通过日本岛津公司的EDX-LE型能量色散型X射线荧光光谱仪测试银首饰中的银含量,分析得出样品测试面是否平整、准直器的大小是影响实验测试值准确性的最主要因素,测试时需要选择较大的准直器、选择平整的测试面且多次测量以得出测试结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高孔	华南理工大学广州学院	11	12	2.0	3.0
3	伍婉仪	华南理工大学广州学院	2	0	0.0	0.0
9	陈诗丹	华南理工大学广州学院	1	0	0.0	0.0