测试性分析与评估体系的研究

• 作者: 张伟昆
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试性分析 相关性矩阵 检测率 隔离率
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 字数: 4585字
• 语种: 中文

摘要

测试性是一种能及时准确地确定电子系统状态并隔离其内部故障的设计特性，通过测试性分析与评估来发现电子设备测试性设计中存在的缺陷并加以改进。为了有效评价系统测试性的好坏，迫切需要一个完善的测试性分析与评估体系。通过研究相关矩阵的测试性分析与评估过程，分析并总结得到测试冗余与故障掩盖之间的关系，即可通过简单测试组合减少故障掩盖以此来提高系统的测试性，并对常用测试性参数指标总结并分析提出了2个新的测试指标重点故障检测率与综合故障隔离率。以盒式磁带录放机为例，以不同模型设计两种测试性方案并进行计算分析。其结果表明新提出的测试性指标能够分辨出具有更好测试性的设计方案。