| 篇名 | Effects of Film Thickness and Ar/O2 Ratio on Resistive Switching Characteristics of HfOx-Based Resistive-Switching Random Access Memories | ||
| 来源期刊 | 中国物理快报(英文版) | 学科 | |
| 关键词 | @@ | ||
| 年,卷(期) | 2015,(1) | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 125-128 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.1088/0256-307X/32/1/016801 | ||