基于NI PXI平台的并行无线测试技术

• 作者: 姚远
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 关键词: WLAN 无线 Wifi 非信令 VSA VSG VST 制造 生产 测试 多待测设备
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 6-8,11
• 页数: 4页
• 字数: 2514字
• 语种: 中文

摘要

无线局域网(WLAN)技术是近几年来发展最为迅猛的一项技术。尽管这项技术随着笔记本电脑、智能手机和平板电脑等个人设备的普及而快速发展，但市场调查表明这一发展势头仍将继续保持迅猛，因为WLAN技术越来越广泛地应用到更多的消费者设备中，这一个生态系统也被扩展使用到“物联网”中。不仅是WLAN服务需要得到更广泛的应用，802.11ac等新标准也将为设备提供所需的带宽来满足视频流等更高级的应用。对于设备制造商而言，这意味着测试方法也需要与时俱进才能应对制造需求的快速增长，还需要在维持相同质量水平的同时降低成本。如果采用多待测设备(DUT)测试架构，企业将可大幅缩短实现这些目标所需的时间。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚远		8	19	3.0	4.0