单总线多点测温系统的器件遗漏研究?

• 作者: 余小平 陈起传 龙小翠
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 单总线 器件遗漏 电平转化 网络拓扑结构 分布电容 多点测温
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 274-277
• 页数: 4页
• 分类号: TP212.9
• 字数: 2811字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2015.02.010

摘要

采用C8051F340为核心，实现一个I/O对多个单总线温度器件DS18B20的测温系统时，发现离主机较远的测温点器件信息未能获取，产生器件遗漏的现象。实验分析发现单总线多点温度测量系统中，总线分布电容和电阻引起单总线上信号衰减，导致离主机较远的温度器件收到的主机指令出现错误。经过大量测试实验，提出改变总线拓扑结构和提升总线电平两种可行方案，有效的解决了多点测温系统中温度器件漏读问题，并且增加了系统单总线长度和温度器件接入数量。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余小平	成都理工大学信息科学与技术学院	30	141	8.0	10.0
2	陈起传	成都理工大学信息科学与技术学院	4	11	2.0	3.0
3	龙小翠	成都理工大学信息科学与技术学院	4	11	2.0	3.0