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摘要:
针对特性阻抗的频域测量难以满足工业生产需求的问题,提出了一种基于TDR的特性阻抗的时域测量方法.文中采用TDR模块Agilent54754A,测量标准件电路板的特性阻抗,并将实验测量的文本数据从示波器导入电脑,作为计算电路板特性阻抗的实测数据.然而时域测量方法得到的实测数据容易受到时基抖动和微波反射等的影响,论文采用PDF反卷积法有效去除了数据中的时基抖动,并根据IPC-TM-650规程选择最佳测量区域,有效地去除了微波反射,而且将两种方法综合应用来处理实验数据.将处理过的电压值变换成阻抗值,结论表明,测量数据处理结果十分接近被测件的标定值.
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文献信息
篇名 基于TDR的特性阻抗测量的数据处理
来源期刊 电子测量技术 学科 工学
关键词 时域反射计 特性阻抗 去时基抖动 数据处理
年,卷(期) 2015,(12) 所属期刊栏目 数据采集及信号处理
研究方向 页码范围 116-120
页数 5页 分类号 TN98
字数 2555字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱江淼 北京工业大学电子信息与控制工程学院 53 309 9.0 14.0
2 缪京元 17 58 4.0 7.0
3 曲玲玲 北京工业大学电子信息与控制工程学院 1 6 1.0 1.0
4 李超明 北京工业大学电子信息与控制工程学院 3 6 1.0 2.0
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电子测量技术
半月刊
1002-7300
11-2175/TN
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
2-336
1977
chi
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