基于STK二次开发的链路测控仿真

• 作者: 丁学勇 崔津华
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 测控链路 STK二次开发 STK/X 仿真建模
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 协议·算法及仿真
• 页码范围: 21-23
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.9|V556
• 字数: 1568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2015.06.006

摘要

在航空航天任务过程中,测控覆盖率高就能提供实时、连续、可靠的信息支持.利用VC结合STK二次开发,建立了测控链路仿真模型.软件利用STK/X模块较好的显示效果与Access模块计算、显示测控链路的余量和测控链路覆盖范围.针对不同的地面站部署,可计算空间飞行器的测控覆盖率.实现VC与STK集成的二次开发可大幅节省了开发时间,该仿真方法对测控系统的设计具有参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁学勇	西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真重点实验室	1	1	1.0	1.0
2	崔津华	西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真重点实验室	1	1	1.0	1.0