高分辨率X射线探测器读出电子学系统的研制及性能测试

• 作者: 冯召东 刘双全 张红凯 李晓辉 杜秋宇 秦秀波 魏书军 魏存峰 魏龙
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: X射线探测器 读出电子学 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 534-539
• 页数: 6页
• 分类号: TL82
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2015.49.03.0534

摘要

本文针对光锥耦合X射线探测器低噪声的设计要求，研制了一套读出电子学系统，该系统包括模拟驱动电路、前端处理电路及基于现场可编程门阵列（FPGA ）的数字信号处理电路。利用X射线成像平台，对研发的探测器进行了性能测试。探测器系统绝对增益为0.1686 DN／e－，线性工作范围为0～154μGy。制冷温度为－20℃时，暗电流噪声为0.037 e－／（pixel · s），读出噪声为10.9 e－。探测器的本征空间分辨率达16 lp／mm。测试结果表明，研制的读出电子学系统能满足高分辨率X射线探测器对低噪声特性的需求。