一种电子设备自动化测试系统的设计与实现

• 作者: 孙日明 李安源 殷杰波
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 可编程逻辑器件 自动测试系统 故障诊断 PCI总线
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 128-130,133
• 页数: 4页
• 分类号: TN710-34
• 语种: 中文

摘要

针对某电子设备的维修保障需求，提出一种构建其自动化测试平台的技术方案。该平台采用基于PC/104?Plus标准的工控主模块和可编程逻辑器件，实现自动测试系统与CPCI、ISA 和Multibus 待测板卡通信，软件方面采用基于Test?Works的专家系统实现故障诊断功能。实践证明该平台有效解决了某电子设备的测试诊断问题，具有一定的推广价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙日明		4	4	1.0	2.0
2	李安源		2	4	1.0	2.0
3	殷杰波		5	7	2.0	2.0