基于双掩模图像差影的工业产品表面缺陷检测

• 作者: 化春键 邓朝省 陈莹
• 来源期刊: 传感器与微系统
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷检测 差影法 掩模 斑点分析
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 计算与测试
• 页码范围: 127-129,133
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 字数: 2421字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13873/J.1000-9787(2015)05-0127-03

摘要

针对利用图像差影法进行缺陷检测时易受配准精度和产品制作过程扰动的影响,以及单掩模算法难以检测不同类型缺陷的问题,结合工业产品表面缺陷,提出基于双掩模的图像差影策略.通过分别提取模板图像和待测图像的边缘并作膨胀处理得到双掩模即模板掩模和待测掩模,双掩模进行融合处理后分别与模板图像和待测图像做卷积,再采用差影法进行缺陷检测.实验证明:该方法能精确检测出多类表面缺陷,且满足实时要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	化春键	江南大学机械工程学院	34	63	4.0	5.0
3	陈莹	江南大学物联网工程学院	101	401	10.0	14.0
6	邓朝省	江南大学物联网工程学院	2	17	2.0	2.0