自动测试系统中矩阵开关的设计与实现

• 作者: 刘道 戴建利 陈雄姿 龙辛
• 来源期刊: 机械工程与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统 矩阵开关 FPGA 设计
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化技术
• 页码范围: 165-167
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 2219字
• 语种: 中文

摘要

矩阵开关是自动测试系统的重要组成部分，负责测试信号的通道选择和切换。根据自动测试系统的实际要求，设计并实现了一种基于FPGA的大规模矩阵开关，它以 FPGA为实际控制逻辑核心，通过上位机对FPGA进行配置以实现测试电路以及外围设备的切换。本方案具有开关规模大、成本低、通用性强等特点，极大地提高了测试效率和测试的自动化程度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙辛		33	189	9.0	11.0
2	陈雄姿	湘潭大学智能计算与信息处理教育部重点实验室	3	12	3.0	3.0
3	戴建利	湘潭大学智能计算与信息处理教育部重点实验室	5	19	3.0	4.0
4	刘道	湘潭大学智能计算与信息处理教育部重点实验室	2	5	1.0	2.0