航天继电器贮存可靠性退化试验与评价方法研究

• 作者: 尚尚 王召斌 翟国富
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 航天继电器 贮存 可靠性 退化试验
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-7
• 页数: 7页
• 分类号: TM506|TM58
• 字数: 6820字
• 语种: 中文

摘要

针对航天电磁继电器的贮存可靠性退化试验技术、贮存可靠性技术以及继电器可靠性技术等几方面的国内外相关研究现状进行了概述与总结.分析了目前研究的不足,并对研究方向进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	280	2576	26.0	34.0
2	尚尚	江苏科技大学电子信息学院	17	30	4.0	5.0