一种基于标准库单元的集成电路老化检测方案

• 作者: 付萌萌 孙权
• 来源期刊: 物联网技术
• 关键词: 集成电路老化 热载流子注入 负偏压温度不稳定性 电路监测
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 32-33
• 页数: 2页
• 分类号: TN453
• 语种: 中文

摘要

集成电路老化的影响，随着集成工艺尺寸越来越小而越来越明显。其主要影响表现在增加了电路元件的输入-输出信号的延迟，从而降低了电路工作能力。提出一种基于标准库单元的老化监测，并介绍本设计的简单性和灵活性。设计集成电路时可以设计使用不同的老化监测模块，通过阅读放置在每个监控寄存器中的“年龄代码”来确定电路元器件的“年龄”，从而预防和监测电路的故障。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙权	长安大学电控学院	1	0	0.0	0.0
2	付萌萌	长安大学电控学院	1	0	0.0	0.0