扫描电子显微镜结合热电离质谱测定单微粒中铀同位素比值

• 作者: 刘宇昂 张燕 朱建锐 王凡 王晓明 王琛 赵永刚 鹿捷
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 含铀微粒 SEM 热电离质谱 微操作 同位素分析
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 400-403
• 页数: 4页
• 分类号: TL99
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2015.49.03.0400

摘要

单微粒铀同位素分析是核保障环境监测技术的重要手段。作为现阶段应用最可靠且广泛的微粒分析技术之一，裂变径迹‐热电离质谱（FT‐TIMS）技术需依赖反应堆辐照，分析步骤繁琐，效率较低。扫描电子显微镜结合热电离质谱（SEM‐TIMS）在保持原有 TIMS的高测量精密度的同时，由扫描电子显微镜结合X射线能量色散谱仪（SEM‐EDX）完成含铀微粒的寻找和鉴别，由微操作系统进行微粒转移，缩短了分析流程，提高了分析效率。本文应用建立的SEM‐TIMS分析方法对已知同位素组成的单分散铀氧化物标准微粒进行了测量，测量结果与其标称值一致。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵永刚	中国原子能科学研究院放射化学研究所	51	122	7.0	9.0
2	张燕	中国原子能科学研究院放射化学研究所	16	7	1.0	1.0
3	王凡	中国原子能科学研究院放射化学研究所	16	30	3.0	4.0
4	王琛	中国原子能科学研究院放射化学研究所	10	23	3.0	4.0
5	刘宇昂		9	23	3.0	4.0
6	王晓明		12	69	3.0	8.0
7	朱建锐		1	1	1.0	1.0