基于FPGA的反走样直线生成算法研究

• 作者: 李开宇 杨盛亚 王文栋
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高速图形处理 现场可编程门阵列 直线反走样 灰度分配 累积误差
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 可编程器件应用
• 页码范围: 83-87
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 3212字
• 语种: 中文

摘要

光栅显示器绘制理想直线时需要进行反走样处理,传统直线反走样算法中往往包含大量的乘除法,直接移植到FPGA平台中,会产生很大的资源开销和时间开销.利用FPGA的流水并行特点,提出的基于FPGA的反走样直线生成算法,可对直线起点的像素灰度进行精确分配,并修正因FPGA计算精度有限引起的累积误差,在有效降低FPGA的资源和时间开销的同时,获得了良好的视觉效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李开宇	南京航空航天大学自动化学院	60	370	10.0	15.0
2	杨盛亚	南京航空航天大学自动化学院	3	12	2.0	3.0
3	王文栋	南京航空航天大学自动化学院	1	4	1.0	1.0