基于单片机的时序测试系统设计

• 作者: 李建宏 王琪 章文晋
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 测试 数据采集
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 74-77
• 页数: 4页
• 分类号: TP216
• 字数: 1295字
• 语种: 中文

摘要

针对某特殊应用条件下的时序测试需求,设计了一套基于单片机的测试系统,系统以STC12C2052单片机作为测试的基础硬件,完成逻辑控制、数据采集以及数据处理、测试结果传输等功能,具有结构简单、体积小、性价比高等特点.上位机部分的软件基于VC++6.0设计,主要完成测试数据存储和显示功能.单片机与上位机间通过串口进行通信,经实验证明该系统的测试结果误差较小,工作稳定,完全能够满足实际测试需要,结合上位机能方便的进行历史数据查看和时序波形对比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王琪	北京航空航天大学可靠性与工程系统学院	63	371	10.0	18.0
2	章文晋	北京航空航天大学可靠性与工程系统学院	11	45	5.0	6.0